发布日期：2022-08-17 点击：
仪器名称
X射线衍射仪
生产厂家及型号
理学Ultima IV
功能参数
配有ICDD正版XRD数据库（每年更新）
X光管：Cu靶；
测角仪最小步进：1/10000度；
高速探测器D/teX-Ultra
仪器用途
1.粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
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