发布日期：2022-08-17 点击：
仪器名称
透射电子显微镜
生产厂家及型号
JEM-2100
功能参数
1.成像模式：TEM
2.加速电压：30,60,120,200kV
3.球差系数：1.0mm
4.点分辨率：0.23nm
5.晶格分辨率：0.14nm
6.电子枪：LaB6
7.倾斜角：±35/30°
8.放大倍数：×2000~1500 000
仪器用途
1.形貌观察：凡是在TEM观察范围内的样品
2.高分辨像：如多相催化中小颗粒分析；晶体缺陷、晶界、相界；非晶薄膜上的纳米晶
3.电子衍射：如确定晶体的点阵结构、测定点阵常数、晶体缺陷（位错、层错、空位等）
4.衍射衬度成像（明场像、暗场像）
5.X射线能谱分析；元素定点分析
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